Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу на сайте. Пожалуйста, обновление браузер, чтобы улучшить качество работы с сайтом.
Бессрочная гарантия Посмотреть подробности
Каталог

Оптическая микроскопия (световая)

Март 2019

оптическая микроскопия, методы оптической микроскопии, ближнепольная оптическая микроскопия, оптическая микроскопия световая, сканирующая оптическая микроскопияПод оптической микроскопией (световой) понимается многообразие методов изучения микрообъектов при помощи оптических микроскопов разных конструкций. Кроме нее существует еще и электронная микроскопия, но в рамках этой статьи мы ее рассматривать не будем. Оптический микроскоп позволяет наблюдать объекты на увеличении до 2000–3000 крат, причем размер этих объектов не может быть меньше 200–400 нм (1 нм = 10−9 м = 10−6 мм). Эти ограничения накладывают физические законы – преодолеть эти границы можно лишь с применением неоптических (электронных) систем.

Методы оптической микроскопии

Метод микроскопии, который исследователь выбирает для изучения образца, зависит и от структуры самого образца, и от условий наблюдений, и от задач, которые решает наблюдатель. Принято выделять следующие методы: светлого поля, темного поля, поляризационную микроскопию, люминесцентную (флуоресцентную) микроскопию, метод фазового контраста и некоторые другие. Большинство этих методов мы описывали в отдельных статьях, которые можно найти по ссылке.

Сканирующая оптическая микроскопия

Здесь же мы осветим менее распространенный метод, который был разработан ирландским физиком Эдвардом Сингом в 1928 году. К сожалению, этот вид микроскопии не был встречен с энтузиазмом учеными того времени. Первые опыты с его использованием провели лишь в 1972 году. Этот метод называется «ближнепольная оптическая микроскопия», часто можно встретить и дополнение «сканирующая». На сегодняшний день это один из широко используемых в профессиональных кругах способов наблюдения микромира. Для исследований применяются специальные микроскопы со сканирующими оптическими зондами. Зонд позволяет регистрировать электромагнитное поле с расстояния меньшего, чем длина световой волны. И, несмотря на то, что наблюдения ведутся в оптическом диапазоне, разрешение (четкость и контрастность) картинки при сканирующей оптической микроскопии во много раз превышают разрешение изображений, полученных с использованием классических микроскопов.

Все микроскопы, которые представлены в нашем интернет-магазине, вы можете найти по ссылке. Наши консультанты всегда готовы помочь советом – звоните или пишите, если затрудняетесь с выбором подходящего микроскопа или аксессуаров.

Использование материала полностью для общедоступной публикации на носителях информации и любых форматов запрещено. Разрешено упоминание статьи с активной ссылкой на сайт www.4glaza.ru.

Производитель оставляет за собой право вносить любые изменения в стоимость, модельный ряд и технические характеристики или прекращать производство изделия без предварительного уведомления.